029-86223761
当前位置: 网站首页 >

产品中心

        SKR1840 NDVI观测系统可在近地面对冠层归一化植被指数(NDVI)进行长期定位监测。NDVI对绿色植被反应敏感,常被用于研究植被的生长状态。

        SKR1840光谱表组合是专门针对NDVI观测而设计的传感器,它们都具备双波段通道(Chan1+Chan2),其中SKR 1840D向上安装测量NDVI波段传感器,SKR 1840ND向下安装测量NDVI波段传感器。  


技术规格参数:

1、双通道光谱传感器

(1) 传感器类型:双波长通道Chan1+Chan2

(2) Chan1波长范围:650nm中心波长,40nm带宽

(3) Chan2波长范围:800nm中心波长,40nm带宽

(4) 结构:杜邦缩醛树脂丙烯酸527UV光学玻璃扩散器/窗户

(5) 探测器:Si, GaP or GaAsP 光电二极管(取决于所选波长和带宽)

(6) 电缆:3米 带屏蔽

(7) 工作温度范围-25+75°C 

(8) 工作湿度范围0-100%

(9) 尺寸高度86毫米直径49mm

(10) 重量:295克(3米电缆)

(11) 输出电流输出

(12) 线性优于0.2%

(13) 余弦误差小于5%典型

(14) 响应时间小于100纳秒典型

(15) 绝对校准优于5%典型

2数据采集器

(1) CPU: 32bitFPU100Hz1MB运存

(2) 最大扫描频率:1000Hz

(3) 内存: 128MB,可通过MicroSD卡扩展16GB

(4) 时钟精度: ±3分钟/年;10μm(选配GPS

(5) 测量分辨率: 0.02μV RMS

(6) 模拟精度: ±0.04%读数+漂移)

(7) 供电 :16-32VDC1.2A)太阳能板充电;12VDC电池;内部电池;USB

(8) 工作温度: -40~70℃(标准),-55℃~85℃(扩展)

(9) 模拟输入: 16个单端通道(8个差分)

(10) 控制端子: 数字I/ORS232/RS485,半/全双工

(11) 数据接口: CS I/O*1个;CPI/CDM*1个;RJ-45 Ethernet 10/100M*1个;USB-micro B*1

 

产地:英国